ЦКП ”Материаловедение и диагностика в передовых технологиях” при ФТИ им.А.Ф.Иоффе

Лабораторные работы



Работа Преподаватель Комната Описание
Методика измерения параметров глубоких уровней
в полупроводниковых структурах (DLTS)
Гуткин Андрей Абрамович 209 Скачать 370кб
Проведение электронной литографии
с использованием растровой электронной микроскопии (SEM)
Нащекин Алексей Викторович 203 Скачать 789кб
Рентгенодифракционный анализ (XRD) Вальковский Глеб Андреевич 215 Скачать 1,07Мб
Исследование состава твёрдых тел
методом вторично-ионной масс-спектрометрии (ВИМС)
Коварский Алексей Павлович 409 Скачать 665кб
Локальная катодолюминесценция (КЛ) Кузнецова Яна Вениаминовна 216 Скачать 905кб
Определение состава материалов
методом рентгеноспектрального микроанализа (РСМА)
Трофимов Александр Никитович 216 Скачать 1,17Мб
Исследование топографии поверхности твёрдых тел
методом атомно-силовой микроскопии в неконтактном режиме (АСМ)
Гончаров Вадим Викторович 209 Скачать 8,98Мб

Скачать все описания 11,9Мб